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DUV多重曝光推高中国芯片制造成本

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先了解这件事

AI 综述

Tom’s Hardware的分析认为,在ASML EUV设备受出口限制的情况下,中国芯片厂商依靠DUV多重曝光推进先进工艺,但每次曝光都需精准套刻,代价是芯片面积扩大、良率下降和制造周期延长,不能只看“7nm”等节点名称判断实际密度。 报道以中芯国际的7nm级及后续工艺、长鑫存储的DRAM效率差距说明这一代价;美光则证明DUV仍可支撑有竞争力的存储芯片,但受访专家认为,若缺少EUV,3nm或2nm将难以实现经济化生产。

AI 根据报道生成 · 2 小时前更新

报道时间线

沿着报道,了解事件的不同侧面。

10月23日
  1. Tom’s Hardware
    中国芯片业以DUV多重曝光推进先进工艺,成本与效率代价上升

    中国芯片制造正依靠DUV多重曝光推进先进工艺,但更多曝光会推高缺陷、制造成本和周期,并迫使芯片面积扩大、晶圆良率下降。文章以SMIC的7nm级及后续DUV工艺、CXMT的DRAM效率差距为例,解释为何工艺“节点”名称不能等同实际密度。Micron的实践显示DUV可支撑有竞争力的存储芯片,但专家判断,3nm或2nm若缺乏EUV将难以经济实现。

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